• HT7700型透射電子顯微鏡的發布

    日立高新技術銷售的"HT7700"是日立TEM H-7000系列的Zui新機型, 該系列已在全世界銷售超過800臺。這是一款劃時代的新產品,為使其在同系列的主要用途--生物制藥到納米技術和軟材料等廣泛的領域中得到應用,日立高新技術賦予它優異的操作性與多樣的數碼圖像功能。通過將照相機與顯微鏡主機的操作相統一,既可以在顯示器畫面上簡單地進行操作,又能在通常明亮的室內進行觀察。

    2016-04-25 來自: 新聞資訊

    FEI的 Tecnai Osiris 透射電鏡為分析速度設置新標準

    做為原子級成像和分析系統的主要供應商,FEI 公司Zui新發布Tecnai Osiris掃描/透射電鏡,該款電鏡在分析速度和表現上有著革命性的意義。內置新的ChemiSTEM 技術,它能把大視野下元素成像的時間從小時降到分鐘級別。

    2016-04-22 來自: 新聞資訊

    Vision共推出Falcon300三維視頻測量系統

    Vision工程公司利用50年的光學制造經驗制造了一款3軸無需接觸的測量系統,這款系統技術先進、精確、個頭小,適于現場監控和制造檢測。

    2016-04-22 來自: 新聞資訊

    直接發光綠色的InGaN激光器

    二零零九年八月十三日 --? 歐司朗光電半導體成功研發直接發光綠色氮化銦鎵(InGaN) 激光,標志著實驗室研究取得重大突破。該款激光的光輸出高達 50 mW,發射波長為 515 nm 的真綠光線。與目前采用倍頻技術的半導體激光相比,直接發光綠色激光器體積更小,溫度穩定性更高,調制能力更強,更易于控制。

    2016-04-22 來自: 新聞資訊

    新一代分析電鏡MERLIN FE-SEM的發布

    Carl Zeiss發布了一系列創新產品,內有一款 新一代分析場激發掃描電鏡MERLIN。這個設備具有目前備受爭議的超高分辨率成像和分析功能。“用戶不僅僅需要高分辨率圖像,” 蔡司董事會成員Dr. Dirk Stenkamp解釋說“因為具有獨特的分析能力,我們的設備能提供Zui全面的信息”。

    2016-04-22 來自: 新聞資訊

    新Falcon視像測量顯微鏡系統的推出

    新型Falcon 三軸無觸點視像觀察顯微鏡,融合了Vision公司50年來在三軸視像觀察方面的研發經驗研發而成。 Vision Engineering將很多技術融合在了一個小小的集成足印系統中,適用于工廠車間質檢,還適用于制造工業中的檢測,所以你會發現該產品的性價比極高。

    2016-04-22 來自: 新聞資訊

    數碼顯微鏡的應用

    近年來,隨著課程改革在學校的深入實施,教學設備也發生了很大的變化,實驗室配備了數碼顯微鏡、DIS傳感器、電子白板、自帶光源的學生用顯微鏡等現代化教學設備,這些設備的使用大大提高了課堂教學的效率,對教師的課堂教學有極大的促進作用。

    2016-04-18 來自: 新聞資訊

    掃描探針顯微鏡在納米科技發展中的應用

    ?納米科技的發展離不開各種顯微技術的出現,這其中Zui常見的莫過于大家所熟悉的光學顯微鏡。在此基礎上,為了提高分辨率,人們又設計用電子束代替光子,出現了各種電子顯微鏡。

    2016-04-18 來自: 新聞資訊

    加強顯微鏡檢驗技術在基層檢驗科的應用

    顯微鏡作為檢驗科不可或缺的設備之一,在檢驗科的工作中它作為形態學的經典參考方法,是檢查血液細胞學形態、體液有形成分的重要檢驗方法,作為一名檢驗人員Zui基本的工作能力體現。隨著醫學科學技術的發展,各級醫院相繼添置了先進的全自動血細胞分析儀、尿液干化學分析儀、尿液有形成分分析儀等檢驗設備。

    2016-04-18 來自: 新聞資訊

    透射電鏡數字成像裝置的特點

    側裝型產品以成像視野大、高每秒幀頻率為其主要特點 底裝型產品則強調它們的高靈敏度、 高分辨率成像。 它們之所以有這些不同特點主要是因為它們所用的 CCD 圖像傳感器, 以及與傳感器配套的閃爍體、 光學耦合裝置等不同。

    2016-04-18 來自: 技術資料

    基于工業電視標準的成像裝置

    早期的透射電鏡電子式成像裝置其實就是工業電視在透鏡成像上應用。這些裝置的攝像機輸出標準的 CCIR( 25 /625)或 EIA( 30 /525)信號, 顯示在標準 9 英寸或 12 英寸監視器上,能使用標準的錄像設備錄像。它們的主要目的是替代電鏡的主熒光屏, 以減輕工作人員的勞動強度; 同時由于監視器上的圖像可在普通室內光照條件下被多人觀看, 方便教學。

    2016-04-18 來自: 技術資料

    結晶過程觀察及宏觀分析技術

    熔化狀態的金屬進行冷卻時,當溫度降到Tm(熔點)時并不立即開始結晶,而是當降到Tm以下的某一溫度Tn,結晶才開始,這一現象稱為過冷。熔點Tm與開始結晶的溫度Tn之差△T稱為過冷度。過冷現象表明,金屬結晶必須有一定的過冷度,只有具有一定的過冷度才能為結晶提供相變驅動力。

    2016-04-18 來自: 技術資料
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