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奧林巴斯顯微鏡一種新型的超高分辨率熒光顯微鏡技術
在日本理化學研究所（日本定量生物學中心），奧林巴斯株式會社（社長：Hiroyuki Sasa）一個合作項目，通過其科學解決方案業務，開發了一種新的超高分辨率熒光顯微鏡技術，允許觀察活細胞與超微結構的顯著減少在圖像采集時間。
徠卡顯微鏡助力第四屆全國大學生金相技能大賽
全國大學生金相技能大賽是由高等學校實驗室工作研究會主辦的一項全國性大學生賽事。首屆全國大學生金相技能大賽于2012年12月在北京科技大學正式舉辦，吸引了來自23所高校的71名本科生參加。此后，先后于2013年10月和2014年9月舉辦了第二、三屆全國大學生金相技能大賽。
尼康顯微鏡格里諾和CMO光學系統的區別
立體顯微鏡（有時被稱為解剖顯微鏡）是相對低倍率顯微鏡通常用于查看整個樣品（在印刷電路板組件），或需要任何類型的樣品操縱，諸如夾層或觀看決策。基本上是一個立體顯微鏡是只有兩個顯微鏡（帶有單獨的光路），其重點放在同一點，但是從稍微不同的角度。這將創建一個三維的“立體”圖像的對象，完全一樣的，當你同時使用你的眼睛！（奧林巴斯顯微鏡）
JEOL 新推出環境電子顯微鏡JASM-6200
ClaireScope TM 由一臺大氣掃描電子顯微鏡（atmospheric scanning electron microscope， ASEM)及一臺位于其頂部的光學顯微鏡組成。ASEM 的獨特之處在于，它在倒置的SEM 頂部有一張薄膠片，這張包膠片允許電子傳出但可阻隔空氣流動。這樣既可使樣品保持在大氣環境下，而不影響SEM 機身內的真空狀態。ASEM 中電子束由下方投射到上部位于膠片上的樣品上，可對大氣環境中的樣品成高分辨率影像。同時，這個樣品還可以通過頂部的光學顯微鏡成像。ASEM 中的薄膜嵌在
Veeco的3D共聚焦顯微鏡VCM
Veeco共聚焦計量顯微鏡（縮寫VCM?），將Zui新的共聚焦技術、納米水平測量技術結合于普通的顯微鏡上，方便實用。具有快速、非接觸式的樣品三維檢測特征，亞微米級的橫向分辨率、納米級的縱向分辨率。VCM共聚焦顯微鏡為高曲率、陡峭斜率樣品的分析，及透明介質或半透明膜的測量提供了理想的解決方案。
Leica 單分子檢測平臺TCS SMD
?Leica公司首次發布了單分子檢測系統----TCS SMD系列，為Zui規的單分子技術提供了集成的平臺，如FLIM、FCS實驗。同時還為分子濃縮、分子間相互作用等更新、更精確的研究方向提供了研究工具，如FCCS（熒光相關光譜）和FLCS（熒光壽命相關光譜）。
Asylum公司AFM加熱附件
?2009年5月8日 原子力顯微鏡技術先導者，Asylum Research公司，推出了供原子力顯微鏡用的加熱部件，適用于MFP-3D系列原子力顯微鏡。
3D共聚焦和干涉三維檢測顯微鏡的發布
2009年，Leica 發布新的無接觸3D平面檢測技術，該技術能識別小于1nm的結構。通過和共聚焦技術結合，第一次在感應器頭部進行干涉測量彩色成像，這個名叫DCM的3D檢測顯微鏡是由Leica和西班牙Sensofar-Tech 公司聯合開發的。
M-692線性電動定位載物臺的介紹
? 壓電系統的專家PI近日推出了M-692系列載物臺。這一新品超音速線性載物臺適用于有限空間內的快速定位。 這次推出的兩款載物臺M-692.1U4，M-692.2U4行程分別為20mm及90mm；具備閉環線性馬達驅動并且可以為定位等功能。這兩種型號均配無反沖定位線性編碼器。這兩款新型載物臺適用于任意的xy定位。
Andor發布高性能EMCCD iXon X3
iXon X3系列提供了高級的特性OptAcquire?。這一設計使得用戶可以單擊鼠標就可以優化一系列相機獲取參數，這樣可以在很廣泛的應用中獲得Zui好的效果。OptAcquire的作用使iXon X3易于操作，同時操作也非常靈活。
IPP（Image-Pro Plus）的功能簡述
為獲得Zui好的分析結果，您首先要拿到高品質圖像。Image-Pro將幫助您輕松獲得高品質圖像，有了Image-Pro Plus ，您可以直接從相機、掃描器、光盤等直接采圖。可以簡便可重復的控制復雜的顯微鏡設備，自動化控制顯微鏡的X\Y\Z軸，簡化顯微鏡的手動設置。
濱松開發“微型光電倍增管”
濱松光子學株式會社，日本—2010年9月28日報導：濱松光電，依靠世界領先的光電倍增管（PMT）技術，成功研發了高度集成的新一代光電倍增管μPMT (Micro PMT，即微小光電倍增管)。μPMT是世界上第一個通過半導體工藝MEMS（Micro-Electro-Mechanical Systems，微機電系統）設備制造的光電倍增管。它比濱松原來Zui小型的PMT還要小，相比之下，μPMT只占原來PMT的1/7體積、1/9重量。